摘要：軟件缺陷預(yù)測(cè)在提高軟件質(zhì)量和用戶滿意度、降低開發(fā)成本和風(fēng)險(xiǎn)等方面起著非常重要的作用,在學(xué)術(shù)界如火如荼地展開了眾多理論和實(shí)證研究,但在產(chǎn)業(yè)界卻發(fā)現(xiàn)其存在著實(shí)用性差、效率低、未考慮缺陷嚴(yán)重等級(jí)等不足。為了查找具體原因,首先依據(jù)預(yù)測(cè)目標(biāo)的不同,將靜態(tài)軟件缺陷預(yù)測(cè)細(xì)分為缺陷傾向性預(yù)測(cè)、缺陷的數(shù)量/分布密度預(yù)測(cè)和缺陷模塊排序預(yù)測(cè);然后從軟件度量指標(biāo)的篩選、測(cè)評(píng)數(shù)據(jù)資源庫、缺陷預(yù)測(cè)模型的構(gòu)建和缺陷預(yù)測(cè)模型的評(píng)價(jià)等四方面綜述了上述三類靜態(tài)軟件缺陷預(yù)測(cè)現(xiàn)有的研究工作,詳細(xì)地指出了各自存在的問題,重點(diǎn)綜述了缺陷傾向性預(yù)測(cè)模型的構(gòu)建和缺陷模塊排序模型的構(gòu)建方面的工作;最后結(jié)合在產(chǎn)業(yè)界的應(yīng)用情況,指出了靜態(tài)軟件缺陷預(yù)測(cè)面臨的挑戰(zhàn)和瓶頸,展望了進(jìn)一步的研究方向。