基于深搜算法的手機(jī)外殼刮擦痕跡檢測(cè)
作者：欒松宇; 周文舉; 孔清清; 郭鵬; 徐宗鑫 魯東大學(xué)信息與電氣工程學(xué)院; 山東煙臺(tái)264039
摘要：運(yùn)用形態(tài)學(xué)濾波算法和白適應(yīng)二值化算法對(duì)手機(jī)外殼圖像進(jìn)行預(yù)處理，同時(shí)提出了一種深搜算法，沿著手機(jī)外殼刮痕的方向進(jìn)行搜索，增加了檢測(cè)的魯俸性和敏感性，在具有復(fù)雜表面紋理干擾的情況下仍然能夠有效地對(duì)手機(jī)外殼微小刮痕進(jìn)行檢測(cè)．經(jīng)過(guò)實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證，刮痕檢測(cè)精度可以達(dá)到0．05mm，漏檢率和輪廓檢測(cè)缺失概率分別為4．0％和5．3％．
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魯東大學(xué)學(xué)報(bào)·自然科學(xué)版
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