摘要：本研究提出基于線性掃頻激勵洛倫茲力電阻抗成像理論,搭建了基于Verasonics磁聲電導率檢測平臺,同時將線性掃頻技術,混頻及B模式掃描算法應用于電導率變化區(qū)域界面檢測中,并對0.5%NaCl均勻仿體進行實驗,驗證了線性掃頻理論應用于本系統(tǒng)的正確性,清晰獲得仿體電導率曲線,測得均勻仿體電導率B模式掃描圖與超聲B模式圖及實際測量值一致,此外,本研究還探討了探頭類型及掃頻時寬對成像效果影響。