基于電子背散射衍射技術(shù)的低碳鋼原奧氏體晶界的顯示技術(shù)探討
作者：崔桂彬; 鞠新華; 尹立新; 孟楊; 溫娟 首鋼集團(tuán)有限公司技術(shù)研究院; 北京100043
摘要：常規(guī)對原奧氏體晶界的顯示均采用晶界腐蝕法,但是該方法成功率不高,具有一定的局限性,且所使用的苦味酸溶液屬于危險品,因此,為了更好地顯示出原奧氏體晶界,實驗借助電子背散射衍射技術(shù)(EBSD)對低碳鋼原奧氏體晶界的顯示方法進(jìn)行了詳細(xì)研究。結(jié)果表明,與常規(guī)的晶界腐蝕法相比,借助EBSD技術(shù)可以顯示原奧氏體晶界,其最佳晶界取向差在20°~50°之間,且該低碳鋼原奧氏體平均晶粒尺寸為40.02μm,與晶界腐蝕法統(tǒng)計的結(jié)果基本一致,但是對于經(jīng)過大變形的原奧氏體晶界,實驗方法并不適用,這可能與變形后馬氏體變體之間的取向差隨之變化有關(guān)。
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冶金分析雜志
冶金分析雜志， 月刊，本刊重視學(xué)術(shù)導(dǎo)向，堅持科學(xué)性、學(xué)術(shù)性、先進(jìn)性、創(chuàng)新性，刊載內(nèi)容涉及的欄目：研究與試驗報告、綜述與評論、工作簡報、儀器與實驗技術(shù)、知識介紹、化驗園地、技術(shù)管理、國外情況報導(dǎo)。等。于1981年經(jīng)新聞總署批準(zhǔn)的正規(guī)刊物。
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