摘要：硅基紫外成像探測技術具有可靠性好、集成度高、容易大面陣化、成本低等優(yōu)勢,成為探測領域的重要研究方向。隨著硅半導體工藝的持續(xù)進步以及納米科學的發(fā)展,利用半導體技術、熒光轉換材料或者低維納米結構來增強硅基探測器的紫外響應取得了長足的進步。本文綜述了國內(nèi)外硅基紫外增強成像探測器件、系統(tǒng)應用的進展,通過回顧器件發(fā)展的歷史和對研究現(xiàn)狀的分析,并結合紫外探測技術在天文物理、生化分析、電暈檢測等領域的應用進展,探討了硅基紫外成像探測技術發(fā)展的趨勢和挑戰(zhàn)。