探究含參二次函數(shù)問題之思維痛點(diǎn)
作者：朱旭穎; 余繼光 余杭文昌高級(jí)中學(xué); 浙江杭州311121; 柯橋中學(xué); 浙江紹興312030
摘要：文章診斷含參二次函數(shù)問題中的思維痛點(diǎn)癥狀:鏈接不同表達(dá)式間關(guān)系不暢、有限定義區(qū)間上分類不暢、絕對(duì)值結(jié)構(gòu)轉(zhuǎn)化不暢等,通過探究其產(chǎn)生之根源:二次函數(shù)直觀意識(shí)不強(qiáng)、三個(gè)二次轉(zhuǎn)化能力不夠、綜合問題分解能力不牢,給出痛點(diǎn)解除的方法:抓“形態(tài)”促“代數(shù)”、抓“形式”促“結(jié)構(gòu)”、抓“分類”促“分解”.通過積累痛點(diǎn)解除的經(jīng)驗(yàn),提升含參二次函數(shù)問題求解的成功率.
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中學(xué)教研雜志
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