《Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement》雜志好發(fā)表嗎？
來源：優(yōu)發(fā)表網(wǎng)整理 2024-09-18 10:48:49 1537人看過
《Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement》雜志是一本專注于工程技術領域的期刊，發(fā)表難度因多種因素而異，以下是具體分析：
征集的論文應涉及創(chuàng)新解決方案，以開發(fā)和使用電氣和電子儀器和設備來測量、監(jiān)控和/或記錄物理現(xiàn)象，從而推動測量科學、方法、功能和應用的發(fā)展。這些論文的范圍可能包括：(1) 測量的理論、方法和實踐；(2) 用于生成、獲取、調(diào)節(jié)和處理信號的儀器和測量系統(tǒng)及組件的設計、開發(fā)和評估；(3) 分析、表示、顯示和保存從一組測量中獲得的信息；(4) 對儀器和測量領域技術標準的建立和維護提供科學和技術支持。
發(fā)表難度
影響因子與分區(qū)：《Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement》雜志的影響因子為5.6，屬于JCR分區(qū)Q1區(qū)，中科院分區(qū)中大類學科工程技術為2區(qū)， 小類學科ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程：電子與電氣為2區(qū)，較高的影響因子和較好的分區(qū)表明其在學術界具有較高的影響力和認可度，因此對稿件的質(zhì)量要求也相對較高，發(fā)表難度較大。
歷年IF值(影響因子)：
WOS分區(qū)（數(shù)據(jù)版本：2023-2024年最新版）
| 按JIF指標學科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q1 | 53 / 352 |
85.1% |
| 學科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q1 | 9 / 76 |
88.8% |
| 按JCI指標學科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q1 | 52 / 354 |
85.45% |
| 學科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q1 | 7 / 76 |
91.45% |
名詞解釋：
WOS即Web of Science，是全球獲取學術信息的重要數(shù)據(jù)庫，Web of Science包括自然科學、社會科學、藝術與人文領域的信息，來自全世界近9,000種最負盛名的高影響力研究期刊及12,000多種學術會議多學科內(nèi)容。給期刊分區(qū)時會按照某一個學科領域劃分，根據(jù)這一學科所有按照影響因子數(shù)值降序排名，然后平均分成4等份，期刊影響因子值高的就會在高分區(qū)中，最后的劃分結(jié)果分別是Q1，Q2，Q3，Q4，Q1代表質(zhì)量最高。
審稿周期預計：平均審稿速度 約6.8個月 ，審稿周期也體現(xiàn)了編輯部對稿件質(zhì)量的嚴格把關。
發(fā)表建議
提高稿件質(zhì)量：確保研究內(nèi)容具有創(chuàng)新性和學術價值，語言表達清晰準確，符合雜志工程：電子與電氣的格式和要求。
提前準備：根據(jù)審稿周期，建議作者提前規(guī)劃好研究和寫作進度，以便有足夠的時間進行修改和補充。同時，可以關注《Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement》雜志的約稿信息，如果能夠獲得約稿機會，發(fā)表的可能性會更大。
聲明：以上內(nèi)容來源于互聯(lián)網(wǎng)公開資料，如有不準確之處，請聯(lián)系我們進行修改。
