《Ieee Transactions On Nuclear Science》雜志的收稿范圍和要求是什么?
來源:優(yōu)發(fā)表網整理 2024-09-18 10:48:50 711人看過
《Ieee Transactions On Nuclear Science》雜志收稿范圍涵蓋工程技術全領域,此刊是該細分領域中屬于非常不錯的SCI期刊,在行業(yè)細分領域中學術影響力較大,專業(yè)度認可很高,所以對原創(chuàng)文章要求創(chuàng)新性較高,如果您的文章質量很高,可以嘗試。
平均審稿速度 約3.0個月 ,影響因子指數(shù)1.9。
該期刊近期沒有被列入國際期刊預警名單,廣大學者值得一試。
具體收稿要求需聯(lián)系雜志社或者咨詢本站客服,在線客服團隊會及時為您答疑解惑,提供針對性的建議和解決方案。
出版商聯(lián)系方式:IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC, 445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141
其他數(shù)據
是否OA開放訪問: | h-index: | 年文章數(shù): |
未開放 | 110 | 330 |
Gold OA文章占比: | 2021-2022最新影響因子(數(shù)據來源于搜索引擎): | 開源占比(OA被引用占比): |
16.44% | 1.9 | 0.15... |
研究類文章占比:文章 ÷(文章 + 綜述) | 期刊收錄: | 中科院《國際期刊預警名單(試行)》名單: |
99.70% | SCIE | 否 |
歷年IF值(影響因子):
歷年引文指標和發(fā)文量:
歷年中科院JCR大類分區(qū)數(shù)據:
歷年自引數(shù)據:
發(fā)文統(tǒng)計
2023-2024國家/地區(qū)發(fā)文量統(tǒng)計:
國家/地區(qū) | 數(shù)量 |
USA | 331 |
CHINA MAINLAND | 200 |
France | 185 |
Italy | 105 |
Switzerland | 95 |
Japan | 78 |
GERMANY (FED REP GER) | 53 |
South Korea | 44 |
England | 41 |
Russia | 37 |
2023-2024機構發(fā)文量統(tǒng)計:
機構 | 數(shù)量 |
UNITED STATES DEPARTMENT OF ENER... | 105 |
CHINESE ACADEMY OF SCIENCES | 100 |
VANDERBILT UNIVERSITY | 93 |
CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE ... | 80 |
EUROPEAN ORGANIZATION FOR NUCLEA... | 76 |
CEA | 73 |
ISTITUTO NAZIONALE DI FISICA NUC... | 58 |
UNIVERSITE DE TOULOUSE | 34 |
UNIVERSITE DE MONTPELLIER | 31 |
UNITED STATES DEPARTMENT OF DEFE... | 29 |
近年引用統(tǒng)計:
期刊名稱 | 數(shù)量 |
IEEE T NUCL SCI | 1985 |
NUCL INSTRUM METH A | 350 |
J INSTRUM | 147 |
APPL PHYS LETT | 112 |
J APPL PHYS | 102 |
IEEE T ELECTRON DEV | 84 |
NUCL INSTRUM METH B | 60 |
MED PHYS | 52 |
MICROELECTRON RELIAB | 50 |
PHYS MED BIOL | 48 |
近年被引用統(tǒng)計:
期刊名稱 | 數(shù)量 |
IEEE T NUCL SCI | 1985 |
NUCL INSTRUM METH A | 1041 |
PHYS MED BIOL | 365 |
MICROELECTRON RELIAB | 360 |
J INSTRUM | 341 |
IEEE T ELECTRON DEV | 192 |
PROG NUCL ENERG | 188 |
ELECTRONICS-SWITZ | 168 |
IEEE ACCESS | 160 |
SENSORS-BASEL | 159 |
近年文章引用統(tǒng)計:
文章名稱 | 數(shù)量 |
Needs, Trends, and Advances in I... | 53 |
Evolution of Total Ionizing Dose... | 15 |
Contribution of Thermal Neutrons... | 12 |
Displacement Damage in Silicon D... | 11 |
Improvement of the Time Resoluti... | 11 |
Influence of LDD Spacers and H+ ... | 9 |
LHC and HL-LHC: Present and Futu... | 9 |
Thin Silicon Microdosimeter Util... | 9 |
Luminescence and Scintillation P... | 9 |
Single-Event Burnout Mechanisms ... | 8 |
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