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《Integration-the Vlsi Journal》雜志好發(fā)表嗎?

來源:優(yōu)發(fā)表網整理 2024-09-18 10:50:52 791人看過

《Integration-the Vlsi Journal》雜志是一本專注于工程技術領域的期刊,發(fā)表難度因多種因素而異,以下是具體分析:

Integration 的目標是涵蓋 VLSI 領域的各個方面,重點關注各個科學領域之間的相互影響,以及集成電路和系統(tǒng)的設計、驗證、測試和應用,以及工藝和設備技術中密切相關的主題。每期將刊登同行評審的教程和文章以及近期出版物的評論??梢酝ㄟ^查看以下(非排他性)主題列表來評估期刊的預期覆蓋范圍:

規(guī)范方法和語言;模擬/數字集成電路和系統(tǒng);VLSI 架構;用于對任何復雜程度的集成電路和系統(tǒng)進行建模、仿真、綜合和驗證的算法、方法和工具;嵌入式系統(tǒng);VLSI 系統(tǒng)的高級綜合;邏輯綜合和有限自動機;測試、測試設計和測試生成算法;物理設計;形式驗證;VLSI 系統(tǒng)中實現的算法;系統(tǒng)工程;異構系統(tǒng)。

發(fā)表難度

影響因子與分區(qū):《Integration-the Vlsi Journal》雜志的影響因子為2.2,屬于JCR分區(qū)Q3區(qū),中科院分區(qū)中大類學科工程技術為3區(qū), 小類學科COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE計算機:硬件為4區(qū),較高的影響因子和較好的分區(qū)表明其在學術界具有較高的影響力和認可度,因此對稿件的質量要求也相對較高,發(fā)表難度較大。

歷年IF值(影響因子):

WOS分區(qū)(數據版本:2023-2024年最新版)

按JIF指標學科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
學科:COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE SCIE Q3 32 / 59

46.6%

學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q3 183 / 352

48.2%

按JCI指標學科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
學科:COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE SCIE Q3 39 / 59

34.75%

學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q3 212 / 354

40.25%

名詞解釋:
WOS即Web of Science,是全球獲取學術信息的重要數據庫,Web of Science包括自然科學、社會科學、藝術與人文領域的信息,來自全世界近9,000種最負盛名的高影響力研究期刊及12,000多種學術會議多學科內容。給期刊分區(qū)時會按照某一個學科領域劃分,根據這一學科所有按照影響因子數值降序排名,然后平均分成4等份,期刊影響因子值高的就會在高分區(qū)中,最后的劃分結果分別是Q1,Q2,Q3,Q4,Q1代表質量最高。

審稿周期預計:平均審稿速度 12周,或約稿 約12.8周,審稿周期也體現了編輯部對稿件質量的嚴格把關。

發(fā)表建議

提高稿件質量:確保研究內容具有創(chuàng)新性和學術價值,語言表達清晰準確,符合雜志計算機:硬件的格式和要求。

提前準備:根據審稿周期,建議作者提前規(guī)劃好研究和寫作進度,以便有足夠的時間進行修改和補充。同時,可以關注《Integration-the Vlsi Journal》雜志的約稿信息,如果能夠獲得約稿機會,發(fā)表的可能性會更大。

聲明:以上內容來源于互聯網公開資料,如有不準確之處,請聯系我們進行修改。

12周,或約稿 約12.8周審核
期刊收錄: SCIE

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