《Metrology And Measurement Systems》雜志在中科院分區(qū)中的情況如下：大類學科：工程技術(shù)， 分區(qū)：4區(qū)； 小類學科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION儀器儀表， 分區(qū)：4區(qū)。

中科院分區(qū)決定了SCI期刊在學術(shù)界的地位和影響力，對科研人員和學術(shù)機構(gòu)具有重要的參考價值，具體如下：

對SCI期刊的評價：中科院分區(qū)通過將SCI期刊按照3年平均影響因子劃分為不同的等級，為科研人員和學術(shù)機構(gòu)提供了一個評估SCI期刊學術(shù)影響力的重要依據(jù)。分區(qū)越高，說明該期刊在學科內(nèi)的學術(shù)影響力越大，發(fā)表的文章質(zhì)量越高。

對科研人員的成果評估：科研人員發(fā)表的論文所在的中科院分區(qū)，可以作為評估其研究成果質(zhì)量的一個指標。

對科研資源的分配：中科院分區(qū)在科研資源分配方面也起到重要作用。科研機構(gòu)在制定科研政策、分配科研資源時，會參考中科院分區(qū)。

對科研人員投稿的指導：中科院分區(qū)為科研人員選擇投稿期刊提供了參考?？蒲腥藛T在選擇投稿期刊時，會參考中科院分區(qū)，以提高論文被接受的可能性，并增加研究成果的影響力。

《Metrology And Measurement Systems》雜志是一本專注于儀器儀表領域的國際期刊，由Polish Academy of Sciences, Committee on Metrology and Scientific Instrumentation?出版，創(chuàng)刊于1988年，出版周期為Quarterly。

歡迎對測量科學技術(shù)研究、開發(fā)和應用的各個方面進行投稿。

涵蓋的主題包括：測量理論和一般原理；物理、化學和生物量的測量；醫(yī)學測量；傳感器和換能器；測量數(shù)據(jù)采集；測量信號傳輸；處理和數(shù)據(jù)分析；測量系統(tǒng)和嵌入式系統(tǒng)；儀器的設計、制造和評估。

平均出版周期為 6 個月。

《Metrology And Measurement Systems》雜志學術(shù)影響力具體如下：

在學術(shù)影響力方面，IF影響因子為1，顯示出其在儀器儀表學領域的學術(shù)影響力和認可度。

JCR分區(qū)：Q4

按JIF指標學科分區(qū)，在學科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION中為Q4，排名：62 / 76，百分位：19.1%；

按JCI指標學科分區(qū)，在學科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION中為Q4，排名：64 / 76，百分位：16.45%；

《Metrology And Measurement Systems》雜志的審稿周期預計為：平均審稿速度 較慢,6-12周 ，投稿需滿足English撰寫，期刊注重原創(chuàng)性與學術(shù)嚴謹性，明確拒絕抄襲或一稿多投，Gold OA占比：100.00%，這使得更多的研究人員能夠免費獲取和引用這些高質(zhì)量的研究成果。

該雜志其他關鍵數(shù)據(jù)：

CiteScore分區(qū)（數(shù)據(jù)版本：2024年最新版）：2，進一步證明了其學術(shù)貢獻和影響力。

H指數(shù)：24，年發(fā)文量：52篇

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