《Applied Measurement In Education》雜志是一本專注于教育學(xué)領(lǐng)域的高質(zhì)量期刊，該雜志的錄用率受多種因素影響，想具體了解可聯(lián)系雜志社或咨詢在線客服。

《Applied Measurement In Education》雜志的錄用率受多種因素影響，具體如下：

年發(fā)文量：《Applied Measurement In Education》雜志年發(fā)文量為：22篇。年發(fā)文量較大的期刊，相對而言錄用率會高一些。

質(zhì)量與創(chuàng)新性：論文的科學(xué)性、嚴(yán)謹(jǐn)性、數(shù)據(jù)可靠性以及創(chuàng)新性是關(guān)鍵。

期刊分區(qū)：《Applied Measurement In Education》雜志在中科院的分區(qū)為4區(qū)，而在JCR的分區(qū)為Q3。

論文質(zhì)量：包括研究設(shè)計的合理性、數(shù)據(jù)的可靠性、分析方法的科學(xué)性等。

影響力與排名：《Applied Measurement In Education》雜志IF影響因子為：1.1。高影響力的期刊通常對論文質(zhì)量要求更高，錄用率相對較低。

審稿流程：嚴(yán)格的多輪審稿流程會篩選掉部分稿件，導(dǎo)致錄用率下降。

投稿數(shù)量：在特定時期內(nèi)，若大量研究者集中向某期刊投稿，會導(dǎo)致稿件堆積，錄用率下降。

SCI期刊的錄用率受多重因素影響，作者應(yīng)根據(jù)自身研究特點選擇合適的期刊，并確保稿件質(zhì)量以提高錄用機(jī)會，投稿前務(wù)必仔細(xì)閱讀期刊的投稿指南，并與雜志社保持良好溝通。

《Applied Measurement In Education》雜志簡介

中文簡稱：教育中的應(yīng)用測量
國際標(biāo)準(zhǔn)簡稱：APPL MEAS EDUC
出版商：Taylor & Francis
出版周期：4 issues/year
出版年份：1988年
出版地區(qū)：UNITED STATES
ISSN：0895-7347
ESSN：1532-4818
研究方向：Multiple

《應(yīng)用教育測量》期刊致力于促進(jìn)教育測量領(lǐng)域的學(xué)術(shù)研究與實踐應(yīng)用之間的有效對話。它認(rèn)識到，為了推動教育評估工具和方法的創(chuàng)新與發(fā)展，必須加強(qiáng)研究者和實踐者之間的交流與合作。期刊鼓勵發(fā)表那些能夠直接影響教育實踐的研究成果，包括新的測量模型、評估技術(shù)以及數(shù)據(jù)分析方法。

此外，該期刊還強(qiáng)調(diào)了對教育測量問題進(jìn)行深入分析的重要性，旨在通過發(fā)表綜合性的綜述文章，為讀者提供關(guān)于特定主題的全面視角。這些綜述不僅回顧了現(xiàn)有文獻(xiàn)，還可能提出新的理論框架或方法論建議，以指導(dǎo)未來的研究和實踐。

在中科院分區(qū)表中，大類學(xué)科為教育學(xué)4區(qū)， 小類學(xué)科為EDUCATION & EDUCATIONAL RESEARCH教育學(xué)和教育研究4區(qū)。

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