發(fā)表《Ieee Transactions On Very Large Scale Integration (vlsi) Systems》雜志多久能被SCI數(shù)據(jù)庫收錄？
來源：優(yōu)發(fā)表網(wǎng)整理 2024-09-18 10:50:47 232人看過
通常情況下，《Ieee Transactions On Very Large Scale Integration (vlsi) Systems》雜志發(fā)表的文章被SCIE數(shù)據(jù)庫收錄的時間沒有固定標準，若想了解詳細、準確的具體情況，建議直接與雜志社取得聯(lián)系或者向在線客服進行咨詢。
多久能被SCI數(shù)據(jù)庫一般可以歸納出以下情況：
論文發(fā)表后到在線時間：SCI論文發(fā)表后，一般需要大約3個月的時間才能在期刊官網(wǎng)上線，這是論文初次對外公開的時間點。
在線后到數(shù)據(jù)庫檢索時間：論文在線后，通常還需要1-3個月的時間才能在Web of Science（WOS）數(shù)據(jù)庫中檢索到，這個過程被稱為論文的索引或收錄。
整體時間周期：從投稿到論文被SCI數(shù)據(jù)庫收錄，整個周期大概需要一年左右的時間。具體來說，投稿后可能需要5-6個月收到接收通知，然后經(jīng)過2-3個月論文會在官網(wǎng)上線，再之后2-3個月論文會被WOS數(shù)據(jù)庫收錄。
然而，這個時間周期并不是絕對的，它受到多種因素的影響，如：期刊類型、論文質(zhì)量、數(shù)據(jù)庫更新等。
《Ieee Transactions On Very Large Scale Integration (vlsi) Systems》雜志已被SCIE國際知名數(shù)據(jù)庫收錄，在JCR分區(qū)中位于COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE學(xué)科Q2區(qū)ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC學(xué)科Q2區(qū)，在CiteScore評價中位于Engineering學(xué)科的Q1區(qū)Engineering學(xué)科的Q2區(qū)Engineering學(xué)科的Q2區(qū)具有較高的學(xué)術(shù)影響力，在該領(lǐng)域受到廣泛認可。
WOS分區(qū)（數(shù)據(jù)版本：2023-2024年最新版）
| 按JIF指標學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學(xué)科：COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE | SCIE | Q2 | 23 / 59 |
61.9% |
| 學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q2 | 151 / 352 |
57.2% |
| 按JCI指標學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學(xué)科：COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE | SCIE | Q2 | 26 / 59 |
56.78% |
| 學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q2 | 149 / 354 |
58.05% |
名詞解釋：
WOS即Web of Science，是全球獲取學(xué)術(shù)信息的重要數(shù)據(jù)庫，Web of Science包括自然科學(xué)、社會科學(xué)、藝術(shù)與人文領(lǐng)域的信息，來自全世界近9,000種最負盛名的高影響力研究期刊及12,000多種學(xué)術(shù)會議多學(xué)科內(nèi)容。給期刊分區(qū)時會按照某一個學(xué)科領(lǐng)域劃分，根據(jù)這一學(xué)科所有按照影響因子數(shù)值降序排名，然后平均分成4等份，期刊影響因子值高的就會在高分區(qū)中，最后的劃分結(jié)果分別是Q1，Q2，Q3，Q4，Q1代表質(zhì)量最高。
CiteScore分區(qū)（數(shù)據(jù)版本：2024年最新版）
| CiteScore | SJR | SNIP | CiteScore排名 | ||||||||||||||||
| 6.4 | 0.937 | 1.516 |
|
名詞解釋：
CiteScore：衡量期刊所發(fā)表文獻的平均受引用次數(shù)。
SJR:SCImago 期刊等級衡量經(jīng)過加權(quán)后的期刊受引用次數(shù)。引用次數(shù)的加權(quán)值由施引期刊的學(xué)科領(lǐng)域和聲望 (SJR) 決定。
SNIP:每篇文章中來源出版物的標準化影響將實際受引用情況對照期刊所屬學(xué)科領(lǐng)域中預(yù)期的受引用情況進行衡量。
作為一本專注于工程技術(shù) - 工程：電子與電氣領(lǐng)域的學(xué)術(shù)期刊，它致力于發(fā)表高質(zhì)量的研究論文和為相關(guān)領(lǐng)域的研究人員提供重要的學(xué)術(shù)資源。
該雜志出版周期是Bimonthly，平均審稿速度預(yù)計為： 一般,3-6周 。
《IEEE VLSI 系統(tǒng)學(xué)報》是一份月刊，由 IEEE 電路與系統(tǒng)學(xué)會、IEEE 計算機學(xué)會和 IEEE 固態(tài)電路學(xué)會共同贊助出版。
使用 VLSI/ULSI 技術(shù)設(shè)計和實現(xiàn)微電子系統(tǒng)需要系統(tǒng)架構(gòu)、邏輯和電路設(shè)計、芯片和晶圓制造、封裝、測試和系統(tǒng)應(yīng)用等領(lǐng)域的科學(xué)家和工程師密切合作。必須在所有抽象級別（包括系統(tǒng)、寄存器傳輸、邏輯、電路、晶體管和工藝級別）生成規(guī)范、設(shè)計和驗證。
為了通過一個共同的論壇解決這一關(guān)鍵領(lǐng)域，IEEE VLSI 系統(tǒng)學(xué)報應(yīng)運而生。由國際專家組成的編輯委員會誠邀提交原創(chuàng)論文，這些論文強調(diào)并贊揚微電子系統(tǒng)的新系統(tǒng)集成方面，包括系統(tǒng)設(shè)計和分區(qū)、邏輯和內(nèi)存設(shè)計、數(shù)字和模擬電路設(shè)計、布局綜合、CAD 工具、芯片和晶圓制造、測試和封裝以及系統(tǒng)級鑒定之間的相互作用。因此，這些交易的報道將集中在 VLSI/ULSI 微電子系統(tǒng)集成上。
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