《Journal Of Semiconductor Technology And Science》雜志好發(fā)表嗎？
來源：優(yōu)發(fā)表網(wǎng)整理 2024-09-18 11:07:12 592人看過
《Journal Of Semiconductor Technology And Science》雜志是一本專注于工程技術領域的期刊，發(fā)表難度因多種因素而異，以下是具體分析：
《半導體技術與科學雜志》的出版旨在為參與集成電路技術各個方面的研發(fā)人員提供一個論壇，即 VLSI 制造工藝技術、VLSI 設備技術、VLSI 電路設計以及這種大規(guī)模生產(chǎn)技術的其他新應用。當 IC 被發(fā)明時，這些人在一個地方一起工作。然而，隨著 IC 領域的擴大，我們的個人知識變得越來越狹窄，在技術社會中產(chǎn)生了不同的分支，這使得整體交流變得更加困難。然而，漁夫總是知道他可以在暖水和冷水交匯的邊界捕獲更多的魚。因此，我們決定倒退，將所有參與 VLSI 技術的人員聚集在一個地方。
發(fā)表難度
影響因子與分區(qū)：《Journal Of Semiconductor Technology And Science》雜志的影響因子為0.5，屬于JCR分區(qū)Q4區(qū)，中科院分區(qū)中大類學科工程技術為4區(qū)， 小類學科ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程：電子與電氣為4區(qū)，較高的影響因子和較好的分區(qū)表明其在學術界具有較高的影響力和認可度，因此對稿件的質(zhì)量要求也相對較高，發(fā)表難度較大。
歷年IF值(影響因子)：
WOS分區(qū)（數(shù)據(jù)版本：2023-2024年最新版）
| 按JIF指標學科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q4 | 329 / 352 |
6.7% |
| 學科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q4 | 175 / 179 |
2.5% |
| 按JCI指標學科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q4 | 342 / 354 |
3.53% |
| 學科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q4 | 176 / 179 |
1.96% |
名詞解釋：
WOS即Web of Science，是全球獲取學術信息的重要數(shù)據(jù)庫，Web of Science包括自然科學、社會科學、藝術與人文領域的信息，來自全世界近9,000種最負盛名的高影響力研究期刊及12,000多種學術會議多學科內(nèi)容。給期刊分區(qū)時會按照某一個學科領域劃分，根據(jù)這一學科所有按照影響因子數(shù)值降序排名，然后平均分成4等份，期刊影響因子值高的就會在高分區(qū)中，最后的劃分結果分別是Q1，Q2，Q3，Q4，Q1代表質(zhì)量最高。
審稿周期預計：平均審稿速度 較慢,6-12周 ，審稿周期也體現(xiàn)了編輯部對稿件質(zhì)量的嚴格把關。
發(fā)表建議
提高稿件質(zhì)量：確保研究內(nèi)容具有創(chuàng)新性和學術價值，語言表達清晰準確，符合雜志工程：電子與電氣的格式和要求。
提前準備：根據(jù)審稿周期，建議作者提前規(guī)劃好研究和寫作進度，以便有足夠的時間進行修改和補充。同時，可以關注《Journal Of Semiconductor Technology And Science》雜志的約稿信息，如果能夠獲得約稿機會，發(fā)表的可能性會更大。
聲明：以上內(nèi)容來源于互聯(lián)網(wǎng)公開資料，如有不準確之處，請聯(lián)系我們進行修改。
