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《Iet Circuits Devices & Systems》雜志目前處于幾區(qū)?

來源:優(yōu)發(fā)表網(wǎng)整理 2024-09-18 10:58:35 372人看過

《Iet Circuits Devices & Systems》雜志在中科院分區(qū)中的情況如下:大類學科:工程技術, 分區(qū):4區(qū); 小類學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程:電子與電氣, 分區(qū):4區(qū)。

中科院分區(qū)決定了SCI期刊在學術界的地位和影響力,對科研人員和學術機構具有重要的參考價值,具體如下:

對SCI期刊的評價:中科院分區(qū)通過將SCI期刊按照3年平均影響因子劃分為不同的等級,為科研人員和學術機構提供了一個評估SCI期刊學術影響力的重要依據(jù)。分區(qū)越高,說明該期刊在學科內(nèi)的學術影響力越大,發(fā)表的文章質量越高。

對科研人員的成果評估:科研人員發(fā)表的論文所在的中科院分區(qū),可以作為評估其研究成果質量的一個指標。

對科研資源的分配:中科院分區(qū)在科研資源分配方面也起到重要作用。科研機構在制定科研政策、分配科研資源時,會參考中科院分區(qū)。

對科研人員投稿的指導:中科院分區(qū)為科研人員選擇投稿期刊提供了參考??蒲腥藛T在選擇投稿期刊時,會參考中科院分區(qū),以提高論文被接受的可能性,并增加研究成果的影響力。

《Iet Circuits Devices & Systems》雜志是一本專注于工程:電子與電氣領域的國際期刊,由Wiley?出版,創(chuàng)刊于2007年,出版周期為Bi-monthly。

IET 電路、器件與系統(tǒng)涵蓋以下主題:

電路理論與設計、電路分析與仿真、計算機輔助設計

濾波器(模擬和開關電容器)

電路實現(xiàn)、單元和集成架構(包括 VLSI)

可測試性、容錯設計、電路最小化和 VLSI 的 CAD

用于傳統(tǒng)和新興技術(包括納米電子學和 MEM)的新型或改進電子設備

器件和工藝特性、器件參數(shù)提取方案

電路和系統(tǒng)理論的數(shù)學

涉及電子電路、工業(yè)應用電路、傳感器和換能器的測試和測量技術

《Iet Circuits Devices & Systems》雜志學術影響力具體如下:

在學術影響力方面,IF影響因子為1,顯示出其在工程:電子與電氣學領域的學術影響力和認可度。

JCR分區(qū):Q4

按JIF指標學科分區(qū),在學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC中為Q4,排名:285 / 352,百分位:19.2%;

按JCI指標學科分區(qū),在學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC中為Q4,排名:287 / 354,百分位:19.07%;

《Iet Circuits Devices & Systems》雜志的審稿周期預計為:平均審稿速度 較慢,6-12周 ,投稿需滿足English撰寫,期刊注重原創(chuàng)性與學術嚴謹性,明確拒絕抄襲或一稿多投,Gold OA占比:69.13%,這使得更多的研究人員能夠免費獲取和引用這些高質量的研究成果。

該雜志其他關鍵數(shù)據(jù):

CiteScore分區(qū)(數(shù)據(jù)版本:2024年最新版):3.8,進一步證明了其學術貢獻和影響力。

H指數(shù):45,年發(fā)文量:26篇

CiteScore分區(qū)(數(shù)據(jù)版本:2024年最新版)

CiteScore SJR SNIP CiteScore排名
3.8 0.289 0.595
學科 分區(qū) 排名 百分位
大類:Engineering 小類:Control and Systems Engineering Q2 137 / 321

57%

大類:Engineering 小類:Electrical and Electronic Engineering Q2 350 / 797

56%

名詞解釋:
CiteScore:衡量期刊所發(fā)表文獻的平均受引用次數(shù)。
SJR:SCImago 期刊等級衡量經(jīng)過加權后的期刊受引用次數(shù)。引用次數(shù)的加權值由施引期刊的學科領域和聲望 (SJR) 決定。
SNIP:每篇文章中來源出版物的標準化影響將實際受引用情況對照期刊所屬學科領域中預期的受引用情況進行衡量。

聲明:以上內(nèi)容來源于互聯(lián)網(wǎng)公開資料,如有不準確之處,請聯(lián)系我們進行修改。

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