《Iet Circuits Devices & Systems》雜志的收稿范圍和要求是什么?
來(lái)源:優(yōu)發(fā)表網(wǎng)整理 2024-09-18 10:58:35 372人看過(guò)
《Iet Circuits Devices & Systems》雜志收稿范圍涵蓋工程技術(shù)全領(lǐng)域,此刊是該細(xì)分領(lǐng)域中屬于非常不錯(cuò)的SCI期刊,在行業(yè)細(xì)分領(lǐng)域中學(xué)術(shù)影響力較大,專業(yè)度認(rèn)可很高,所以對(duì)原創(chuàng)文章要求創(chuàng)新性較高,如果您的文章質(zhì)量很高,可以嘗試。
平均審稿速度 較慢,6-12周 ,影響因子指數(shù)1。
該期刊近期沒(méi)有被列入國(guó)際期刊預(yù)警名單,廣大學(xué)者值得一試。
具體收稿要求需聯(lián)系雜志社或者咨詢本站客服,在線客服團(tuán)隊(duì)會(huì)及時(shí)為您答疑解惑,提供針對(duì)性的建議和解決方案。
出版商聯(lián)系方式:WILEY, 111 RIVER ST, HOBOKEN, USA, NJ, 07030-5774
其他數(shù)據(jù)
是否OA開放訪問(wèn): | h-index: | 年文章數(shù): |
開放 | 45 | 26 |
Gold OA文章占比: | 2021-2022最新影響因子(數(shù)據(jù)來(lái)源于搜索引擎): | 開源占比(OA被引用占比): |
69.13% | 1 | 0.27... |
研究類文章占比:文章 ÷(文章 + 綜述) | 期刊收錄: | 中科院《國(guó)際期刊預(yù)警名單(試行)》名單: |
96.15% | SCIE | 否 |
歷年IF值(影響因子):
歷年引文指標(biāo)和發(fā)文量:
歷年中科院JCR大類分區(qū)數(shù)據(jù):
歷年自引數(shù)據(jù):
發(fā)文統(tǒng)計(jì)
2023-2024國(guó)家/地區(qū)發(fā)文量統(tǒng)計(jì):
國(guó)家/地區(qū) | 數(shù)量 |
India | 169 |
CHINA MAINLAND | 68 |
Iran | 53 |
USA | 35 |
Canada | 22 |
Taiwan | 21 |
South Korea | 17 |
Turkey | 14 |
Egypt | 9 |
France | 9 |
2023-2024機(jī)構(gòu)發(fā)文量統(tǒng)計(jì):
機(jī)構(gòu) | 數(shù)量 |
NATIONAL INSTITUTE OF TECHNOLOGY... | 47 |
INDIAN INSTITUTE OF TECHNOLOGY S... | 37 |
ISLAMIC AZAD UNIVERSITY | 17 |
JADAVPUR UNIVERSITY | 11 |
XI'AN JIAOTONG UNIVERSITY | 10 |
SHAHID BAHONAR UNIVERSITY OF KER... | 8 |
BIRLA INSTITUTE OF TECHNOLOGY & ... | 6 |
NATIONAL YANG MING CHIAO TUNG UN... | 6 |
ANNA UNIVERSITY | 5 |
BRNO UNIVERSITY OF TECHNOLOGY | 5 |
近年引用統(tǒng)計(jì):
期刊名稱 | 數(shù)量 |
IEEE J SOLID-ST CIRC | 200 |
IEEE T ELECTRON DEV | 184 |
IEEE T CIRCUITS-I | 142 |
IEEE T CIRCUITS-II | 98 |
ELECTRON LETT | 92 |
IEEE T POWER ELECTR | 83 |
IET CIRC DEVICE SYST | 83 |
IEEE T VLSI SYST | 82 |
IEEE T COMPUT AID D | 53 |
IEEE T MICROW THEORY | 52 |
近年被引用統(tǒng)計(jì):
期刊名稱 | 數(shù)量 |
IET CIRC DEVICE SYST | 83 |
IEEE ACCESS | 43 |
J CIRCUIT SYST COMP | 35 |
MICROELECTRON J | 34 |
AEU-INT J ELECTRON C | 29 |
ANALOG INTEGR CIRC S | 22 |
CIRC SYST SIGNAL PR | 21 |
ELECTRONICS-SWITZ | 17 |
IEEE T ELECTRON DEV | 13 |
IEICE ELECTRON EXPR | 11 |
近年文章引用統(tǒng)計(jì):
文章名稱 | 數(shù)量 |
Novel CNFET ternary circuit tech... | 10 |
Novel CMOS MO-CFDITA based fully... | 7 |
Efficient designs of reversible ... | 7 |
Efficient design of coplanar rip... | 7 |
Widely tunable low-pass g(m) - C... | 6 |
Tuning approach for first-order ... | 6 |
Transmission gate-based 9T SRAM ... | 6 |
Fault-tolerant delay cell for ri... | 5 |
Light activation of noise at mic... | 5 |
Analytical modelling and paramet... | 5 |
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