《Microelectronics Reliability》雜志投稿后多久回復(fù)取決于雜志審稿速度：預(yù)計 較快,2-4周 約8.3周。投稿前請仔細閱讀相關(guān)投稿須知，有任何疑問可以聯(lián)系雜志社或咨詢在線客服。

《Microelectronics Reliability》雜志于1964年創(chuàng)刊，刊號為ISSN：0026-2714，EISSN：1872-941X，是一本專注于工程技術(shù) - 工程：電子與電氣領(lǐng)域的SCIE期刊，出版周期為：Monthly，目前未開放OA（未開放訪問）。主要發(fā)表由專家撰寫的簡短且易于理解的文章，內(nèi)容精煉且具有較高的學(xué)術(shù)價值，特別適合那些希望快速了解某一特定研究方向最新進展的讀者。

《微電子可靠性》致力于傳播微電子設(shè)備、電路和系統(tǒng)可靠性的最新研究成果和相關(guān)信息，涵蓋材料、工藝和制造、設(shè)計、測試和操作等各個方面。該期刊涵蓋以下主題：測量、理解和分析；評估和預(yù)測；建模和仿真；方法和緩解。將可靠性與微電子工程其他重要領(lǐng)域（如設(shè)計、制造、集成、測試和現(xiàn)場操作）相結(jié)合的論文也將受到歡迎，并且特別鼓勵報告該領(lǐng)域和特定應(yīng)用領(lǐng)域案例研究的實踐論文。

大多數(shù)被接受的論文將以研究論文的形式發(fā)表，描述重大進展和已完成的工作?；仡櫰毡楦信d趣的重要發(fā)展主題的論文可能會被接受作為評論論文發(fā)表。更初步的緊急通訊和關(guān)于當前感興趣的已完成實踐工作的簡短報告可能會被考慮作為研究筆記發(fā)表。所有投稿均需經(jīng)過該領(lǐng)域頂尖專家的同行評審。

在收錄情況方面，《Microelectronics Reliability》雜志在中科院最新升級版分區(qū)表中，該雜志分區(qū)信息為大類學(xué)科工程技術(shù)4區(qū)，影響因子為1.6，CiteScore為3.3，在工程技術(shù) - 工程：電子與電氣領(lǐng)域的排名較為靠前，其 SJR為 0.394，SNIP為0.801，h-index指數(shù)為80，這些數(shù)據(jù)都反映出期刊在學(xué)術(shù)界具有較高的影響力和學(xué)術(shù)價值。

投稿SCI期刊后收到回復(fù)的時間因多種因素而異，具體時間如下：

初審階段：編輯初審?fù)ǔＴ?-4周內(nèi)完成，主要檢查論文的格式、規(guī)范性以及是否符合期刊的基本要求。

同行評審階段：若論文通過初審，編輯會將其發(fā)送給多位同行評審人進行詳細評估。這一階段是整個審稿過程中最耗時的部分，通常需要1-3個月。

終審階段：編輯在得到審稿人的反饋后，會根據(jù)審稿人的意見給出接收、小修、大修、拒稿等結(jié)果。這一階段的時間相對較短，通常在收到審稿意見后幾天到一周內(nèi)完成。

投稿者在選擇期刊時，應(yīng)考慮到審稿周期，并做好長期等待的準備，同時也要注意不同期刊的具體要求和效率可能大相徑庭。

聲明：以上內(nèi)容來源于互聯(lián)網(wǎng)公開資料，如有不準確之處，請聯(lián)系我們進行修改。