《Ieee Transactions On Device And Materials Reliability》雜志在中科院分區(qū)中的情況如下：大類學(xué)科：工程技術(shù)， 分區(qū)：3區(qū)； 小類學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程：電子與電氣， 分區(qū)：3區(qū)。

中科院分區(qū)決定了SCI期刊在學(xué)術(shù)界的地位和影響力，對科研人員和學(xué)術(shù)機構(gòu)具有重要的參考價值，具體如下：

對SCI期刊的評價：中科院分區(qū)通過將SCI期刊按照3年平均影響因子劃分為不同的等級，為科研人員和學(xué)術(shù)機構(gòu)提供了一個評估SCI期刊學(xué)術(shù)影響力的重要依據(jù)。分區(qū)越高，說明該期刊在學(xué)科內(nèi)的學(xué)術(shù)影響力越大，發(fā)表的文章質(zhì)量越高。

對科研人員的成果評估：科研人員發(fā)表的論文所在的中科院分區(qū)，可以作為評估其研究成果質(zhì)量的一個指標(biāo)。

對科研資源的分配：中科院分區(qū)在科研資源分配方面也起到重要作用。科研機構(gòu)在制定科研政策、分配科研資源時，會參考中科院分區(qū)。

對科研人員投稿的指導(dǎo)：中科院分區(qū)為科研人員選擇投稿期刊提供了參考?？蒲腥藛T在選擇投稿期刊時，會參考中科院分區(qū)，以提高論文被接受的可能性，并增加研究成果的影響力。

《Ieee Transactions On Device And Materials Reliability》雜志是一本專注于工程：電子與電氣領(lǐng)域的國際期刊，由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.?出版，創(chuàng)刊于2001年，出版周期為Quarterly。

出版物的范圍包括但不限于以下方面的可靠性：設(shè)備、材料、工藝、接口、集成微系統(tǒng)（包括 MEMS 和傳感器）、晶體管、技術(shù)（CMOS、BiCMOS 等）、集成電路（IC、SSI、MSI、LSI、ULSI、ELSI 等）、薄膜晶體管應(yīng)用。從概念階段到研發(fā)再到制造規(guī)模，在每個階段對這些實體的可靠性進行測量和理解，為成功將產(chǎn)品推向市場提供了設(shè)備、材料、工藝、封裝和其他必需品的可靠性的整體數(shù)據(jù)庫。這個可靠性數(shù)據(jù)庫是滿足客戶期望的優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品的基礎(chǔ)。這樣開發(fā)的產(chǎn)品具有高可靠性。高質(zhì)量將實現(xiàn)，因為產(chǎn)品弱點將被發(fā)現(xiàn)（根本原因分析）并在最終產(chǎn)品中設(shè)計出來。這個不斷提高可靠性和質(zhì)量的過程將產(chǎn)生卓越的產(chǎn)品。歸根結(jié)底，可靠性和質(zhì)量不是一回事；但從某種意義上說，我們可以做或必須做一切事情來保證產(chǎn)品在客戶條件下在現(xiàn)場成功運行。我們的目標(biāo)是抓住這些進步。另一個目標(biāo)是關(guān)注電子材料和設(shè)備可靠性的最新進展，并提供對影響可靠性的基本現(xiàn)象的基本理解。此外，該出版物還是可靠性跨學(xué)科研究的論壇。總體目標(biāo)是提供前沿/最新信息，這些信息與可靠產(chǎn)品的創(chuàng)造至關(guān)重要。

《Ieee Transactions On Device And Materials Reliability》雜志學(xué)術(shù)影響力具體如下：

在學(xué)術(shù)影響力方面，IF影響因子為2.5，顯示出其在工程：電子與電氣學(xué)領(lǐng)域的學(xué)術(shù)影響力和認可度。

JCR分區(qū)：Q2

按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū)，在學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC中為Q2，排名：165 / 352，百分位：53.3%；PHYSICS, APPLIED中為Q2，排名：87 / 179，百分位：51.7%；

按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū)，在學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC中為Q3，排名：186 / 354，百分位：47.6%；PHYSICS, APPLIED中為Q3，排名：99 / 179，百分位：44.97%；

《Ieee Transactions On Device And Materials Reliability》雜志的審稿周期預(yù)計為：平均審稿速度 較慢,6-12周 ，投稿需滿足English撰寫，期刊注重原創(chuàng)性與學(xué)術(shù)嚴謹性，明確拒絕抄襲或一稿多投，Gold OA占比：24.52%，這使得更多的研究人員能夠免費獲取和引用這些高質(zhì)量的研究成果。

該雜志其他關(guān)鍵數(shù)據(jù)：

CiteScore分區(qū)（數(shù)據(jù)版本：2024年最新版）：4.8，進一步證明了其學(xué)術(shù)貢獻和影響力。

H指數(shù)：63，年發(fā)文量：72篇

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