《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》雜志影響錄用的因素有哪些？
來源：優(yōu)發(fā)表網(wǎng)整理 2024-09-18 11:00:12 166人看過
《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》雜志是一本專注于工程技術(shù)領(lǐng)域的高質(zhì)量期刊，該雜志的錄用率受多種因素影響，想具體了解可聯(lián)系雜志社或咨詢在線客服。
《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》雜志的錄用率受多種因素影響，具體如下：
年發(fā)文量：《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》雜志年發(fā)文量為：43篇。年發(fā)文量較大的期刊，相對(duì)而言錄用率會(huì)高一些。
質(zhì)量與創(chuàng)新性：論文的科學(xué)性、嚴(yán)謹(jǐn)性、數(shù)據(jù)可靠性以及創(chuàng)新性是關(guān)鍵。
期刊分區(qū)：《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》雜志在中科院的分區(qū)為4區(qū)，而在JCR的分區(qū)為Q4。
論文質(zhì)量：包括研究設(shè)計(jì)的合理性、數(shù)據(jù)的可靠性、分析方法的科學(xué)性等。
影響力與排名：《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》雜志IF影響因子為：1.1。高影響力的期刊通常對(duì)論文質(zhì)量要求更高，錄用率相對(duì)較低。
審稿流程：嚴(yán)格的多輪審稿流程會(huì)篩選掉部分稿件，導(dǎo)致錄用率下降。
投稿數(shù)量：在特定時(shí)期內(nèi)，若大量研究者集中向某期刊投稿，會(huì)導(dǎo)致稿件堆積，錄用率下降。
SCI期刊的錄用率受多重因素影響，作者應(yīng)根據(jù)自身研究特點(diǎn)選擇合適的期刊，并確保稿件質(zhì)量以提高錄用機(jī)會(huì)，投稿前務(wù)必仔細(xì)閱讀期刊的投稿指南，并與雜志社保持良好溝通。
《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》雜志簡(jiǎn)介
中文簡(jiǎn)稱：電子測(cè)試?yán)碚撆c應(yīng)用雜志
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)稱：J ELECTRON TEST
出版商：Springer US
出版周期：Bimonthly
出版年份：1990年
出版地區(qū)：UNITED STATES
ISSN：0923-8174
ESSN：1573-0727
研究方向：工程：電子與電氣 - 工程技術(shù)
《電子測(cè)試：理論與應(yīng)用雜志》是傳播電子測(cè)試領(lǐng)域研究和應(yīng)用信息的國(guó)際論壇。這是唯一一本專門針對(duì)電子測(cè)試的雜志?！峨娮訙y(cè)試：理論與應(yīng)用雜志》上發(fā)表的論文經(jīng)過同行評(píng)審，以確保原創(chuàng)性、及時(shí)性和相關(guān)性。該雜志提供檔案材料，并通過其快速的出版周期，努力將最新成果帶給研究人員和從業(yè)人員。雖然它強(qiáng)調(diào)發(fā)表珍貴的未發(fā)表材料，但需要更廣泛曝光的優(yōu)秀會(huì)議論文，只要符合該雜志的同行評(píng)審標(biāo)準(zhǔn)，編輯也會(huì)酌情發(fā)表。 《電子測(cè)試：理論與應(yīng)用雜志》還尋求清晰的調(diào)查和評(píng)論文章，以促進(jìn)對(duì)最新技術(shù)的更好理解。
《電子測(cè)試：理論與應(yīng)用雜志》的報(bào)道包括但不限于以下主題：
VLSI 設(shè)備印刷電路板和電子系統(tǒng)的測(cè)試；
模擬和數(shù)字電子電路的測(cè)試；
微處理器、存儲(chǔ)器和信號(hào)處理設(shè)備的測(cè)試；
故障建模；
測(cè)試生成；
故障模擬；
可測(cè)試性分析；
可測(cè)試性設(shè)計(jì)；
可測(cè)試性綜合；
內(nèi)置自測(cè)試；
測(cè)試規(guī)范；
容錯(cuò)；
形式驗(yàn)證硬件；
驗(yàn)證模擬；
設(shè)計(jì)調(diào)試；
測(cè)試和診斷的人工智能方法和專家系統(tǒng)；
自動(dòng)測(cè)試設(shè)備（ATE）；
測(cè)試夾具；
電子束測(cè)試系統(tǒng)；
測(cè)試編程；
測(cè)試數(shù)據(jù)分析；
測(cè)試經(jīng)濟(jì)性；
質(zhì)量和可靠性；
CAD 工具；
晶圓級(jí)集成器件測(cè)試；
可靠系統(tǒng)測(cè)試；
制造良率和良率改進(jìn)設(shè)計(jì)；
故障模式分析和工藝改進(jìn)
在中科院分區(qū)表中，大類學(xué)科為工程技術(shù)4區(qū)， 小類學(xué)科為ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程：電子與電氣4區(qū)。
中科院分區(qū)（數(shù)據(jù)版本：2023年12月升級(jí)版）
| 大類學(xué)科 | 分區(qū) | 小類學(xué)科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 工程技術(shù) | 4區(qū) | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 | 4區(qū) | 否 | 否 |
名詞解釋：
中科院分區(qū)也叫中科院JCR分區(qū)，基礎(chǔ)版分為13個(gè)大類學(xué)科，然后按照各類期刊影響因子分別將每個(gè)類別分為四個(gè)區(qū)，影響因子5%為1區(qū)，6%-20%為2區(qū)，21%-50%為3區(qū)，其余為4區(qū)。
中科院分區(qū)（數(shù)據(jù)版本：2022年12月升級(jí)版）
| 大類學(xué)科 | 分區(qū) | 小類學(xué)科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 工程技術(shù) | 4區(qū) | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 | 4區(qū) | 否 | 否 |
中科院分區(qū)（數(shù)據(jù)版本：2021年12月舊的升級(jí)版）
| 大類學(xué)科 | 分區(qū) | 小類學(xué)科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 工程技術(shù) | 4區(qū) | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 | 4區(qū) | 否 | 否 |
中科院分區(qū)（數(shù)據(jù)版本：2021年12月基礎(chǔ)版）
| 大類學(xué)科 | 分區(qū) | 小類學(xué)科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 工程技術(shù) | 4區(qū) | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 | 4區(qū) | 否 | 否 |
中科院分區(qū)（數(shù)據(jù)版本：2021年12月升級(jí)版）
| 大類學(xué)科 | 分區(qū) | 小類學(xué)科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 工程技術(shù) | 4區(qū) | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 | 4區(qū) | 否 | 否 |
中科院分區(qū)（數(shù)據(jù)版本：2020年12月舊的升級(jí)版）
| 大類學(xué)科 | 分區(qū) | 小類學(xué)科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 工程技術(shù) | 4區(qū) | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 | 4區(qū) | 否 | 否 |
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