《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》雜志在中科院分區(qū)中的情況如下：大類學(xué)科：工程技術(shù)， 分區(qū)：4區(qū)； 小類學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程：電子與電氣， 分區(qū)：4區(qū)。

中科院分區(qū)決定了SCI期刊在學(xué)術(shù)界的地位和影響力，對(duì)科研人員和學(xué)術(shù)機(jī)構(gòu)具有重要的參考價(jià)值，具體如下：

對(duì)SCI期刊的評(píng)價(jià)：中科院分區(qū)通過(guò)將SCI期刊按照3年平均影響因子劃分為不同的等級(jí)，為科研人員和學(xué)術(shù)機(jī)構(gòu)提供了一個(gè)評(píng)估SCI期刊學(xué)術(shù)影響力的重要依據(jù)。分區(qū)越高，說(shuō)明該期刊在學(xué)科內(nèi)的學(xué)術(shù)影響力越大，發(fā)表的文章質(zhì)量越高。

對(duì)科研人員的成果評(píng)估：科研人員發(fā)表的論文所在的中科院分區(qū)，可以作為評(píng)估其研究成果質(zhì)量的一個(gè)指標(biāo)。

對(duì)科研資源的分配：中科院分區(qū)在科研資源分配方面也起到重要作用?？蒲袡C(jī)構(gòu)在制定科研政策、分配科研資源時(shí)，會(huì)參考中科院分區(qū)。

對(duì)科研人員投稿的指導(dǎo)：中科院分區(qū)為科研人員選擇投稿期刊提供了參考?？蒲腥藛T在選擇投稿期刊時(shí)，會(huì)參考中科院分區(qū)，以提高論文被接受的可能性，并增加研究成果的影響力。

《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》雜志是一本專注于工程：電子與電氣領(lǐng)域的國(guó)際期刊，由Springer US?出版，創(chuàng)刊于1990年，出版周期為Bimonthly。

《電子測(cè)試：理論與應(yīng)用雜志》是傳播電子測(cè)試領(lǐng)域研究和應(yīng)用信息的國(guó)際論壇。這是唯一一本專門針對(duì)電子測(cè)試的雜志?！峨娮訙y(cè)試：理論與應(yīng)用雜志》上發(fā)表的論文經(jīng)過(guò)同行評(píng)審，以確保原創(chuàng)性、及時(shí)性和相關(guān)性。該雜志提供檔案材料，并通過(guò)其快速的出版周期，努力將最新成果帶給研究人員和從業(yè)人員。雖然它強(qiáng)調(diào)發(fā)表珍貴的未發(fā)表材料，但需要更廣泛曝光的優(yōu)秀會(huì)議論文，只要符合該雜志的同行評(píng)審標(biāo)準(zhǔn)，編輯也會(huì)酌情發(fā)表。 《電子測(cè)試：理論與應(yīng)用雜志》還尋求清晰的調(diào)查和評(píng)論文章，以促進(jìn)對(duì)最新技術(shù)的更好理解。

《電子測(cè)試：理論與應(yīng)用雜志》的報(bào)道包括但不限于以下主題：

VLSI 設(shè)備印刷電路板和電子系統(tǒng)的測(cè)試；

模擬和數(shù)字電子電路的測(cè)試；

微處理器、存儲(chǔ)器和信號(hào)處理設(shè)備的測(cè)試；

故障建模；

測(cè)試生成；

故障模擬；

可測(cè)試性分析；

可測(cè)試性設(shè)計(jì)；

可測(cè)試性綜合；

內(nèi)置自測(cè)試；

測(cè)試規(guī)范；

容錯(cuò)；

形式驗(yàn)證硬件；

驗(yàn)證模擬；

設(shè)計(jì)調(diào)試；

測(cè)試和診斷的人工智能方法和專家系統(tǒng)；

自動(dòng)測(cè)試設(shè)備（ATE）；

測(cè)試夾具；

電子束測(cè)試系統(tǒng)；

測(cè)試編程；

測(cè)試數(shù)據(jù)分析；

測(cè)試經(jīng)濟(jì)性；

質(zhì)量和可靠性；

CAD 工具；

晶圓級(jí)集成器件測(cè)試；

可靠系統(tǒng)測(cè)試；

制造良率和良率改進(jìn)設(shè)計(jì)；

故障模式分析和工藝改進(jìn)

《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》雜志學(xué)術(shù)影響力具體如下：

在學(xué)術(shù)影響力方面，IF影響因子為1.1，顯示出其在工程：電子與電氣學(xué)領(lǐng)域的學(xué)術(shù)影響力和認(rèn)可度。

JCR分區(qū)：Q4

按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū)，在學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC中為Q4，排名：278 / 352，百分位：21.2%；

按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū)，在學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC中為Q4，排名：293 / 354，百分位：17.37%；

《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》雜志的審稿周期預(yù)計(jì)為：平均審稿速度 較慢,6-12周 ，投稿需滿足English撰寫，期刊注重原創(chuàng)性與學(xué)術(shù)嚴(yán)謹(jǐn)性，明確拒絕抄襲或一稿多投，Gold OA占比：9.56%，這使得更多的研究人員能夠免費(fèi)獲取和引用這些高質(zhì)量的研究成果。

該雜志其他關(guān)鍵數(shù)據(jù)：

CiteScore分區(qū)（數(shù)據(jù)版本：2024年最新版）：2，進(jìn)一步證明了其學(xué)術(shù)貢獻(xiàn)和影響力。

H指數(shù)：31，年發(fā)文量：43篇

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