《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》雜志的收稿范圍和要求是什么？
來源：優(yōu)發(fā)表網(wǎng)整理 2024-09-18 11:00:12 166人看過
《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》雜志收稿范圍涵蓋工程技術全領域，此刊是該細分領域中屬于非常不錯的SCI期刊，在行業(yè)細分領域中學術影響力較大，專業(yè)度認可很高，所以對原創(chuàng)文章要求創(chuàng)新性較高，如果您的文章質(zhì)量很高，可以嘗試。
平均審稿速度 較慢,6-12周 ，影響因子指數(shù)1.1。
該期刊近期沒有被列入國際期刊預警名單，廣大學者值得一試。
具體收稿要求需聯(lián)系雜志社或者咨詢本站客服，在線客服團隊會及時為您答疑解惑，提供針對性的建議和解決方案。
出版商聯(lián)系方式：SPRINGER, VAN GODEWIJCKSTRAAT 30, DORDRECHT, NETHERLANDS, 3311 GZ
其他數(shù)據(jù)
| 是否OA開放訪問： | h-index： | 年文章數(shù)： |
| 未開放 | 31 | 43 |
| Gold OA文章占比： | 2021-2022最新影響因子（數(shù)據(jù)來源于搜索引擎）: | 開源占比（OA被引用占比）： |
| 9.56% | 1.1 | 0.04... |
| 研究類文章占比：文章 ÷（文章 + 綜述） | 期刊收錄： | 中科院《國際期刊預警名單（試行）》名單： |
| 100.00% | SCIE | 否 |
歷年IF值(影響因子)：
歷年引文指標和發(fā)文量：
歷年中科院JCR大類分區(qū)數(shù)據(jù)：
歷年自引數(shù)據(jù)：
發(fā)文統(tǒng)計
近年引用統(tǒng)計：
| 期刊名稱 | 數(shù)量 |
| IEEE T COMPUT AID D | 62 |
| IEEE T VLSI SYST | 58 |
| IEEE T COMPUT | 35 |
| IEEE T NUCL SCI | 34 |
| J ELECTRON TEST | 30 |
| IEEE DES TEST | 29 |
| IEEE J SOLID-ST CIRC | 29 |
| IEEE T MICROW THEORY | 21 |
| MICROELECTRON RELIAB | 19 |
| IEEE T CIRCUITS-I | 15 |
近年被引用統(tǒng)計：
| 期刊名稱 | 數(shù)量 |
| J ELECTRON TEST | 30 |
| IEEE ACCESS | 21 |
| IEEE T COMPUT AID D | 16 |
| ANALOG INTEGR CIRC S | 11 |
| IEEE T VLSI SYST | 10 |
| IET COMPUT DIGIT TEC | 9 |
| MICROELECTRON J | 9 |
| SENSORS-BASEL | 9 |
| MICROELECTRON RELIAB | 8 |
| INTEGRATION | 7 |
近年文章引用統(tǒng)計：
| 文章名稱 | 數(shù)量 |
| Machine Learning for Hardware Se... | 10 |
| Security Analysis of the Efficie... | 6 |
| Single Event Transient Propagati... | 5 |
| Test and Reliability in Approxim... | 5 |
| An Extensible Code for Correctin... | 4 |
| Impact of Aging on the Reliabili... | 3 |
| Hardware Trojan Detection Using ... | 3 |
| Test Generation for Bridging Fau... | 3 |
| A Low-Cost Test Solution for Rel... | 3 |
| The Fundamental Primitives with ... | 3 |
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