《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》雜志好發(fā)表嗎？
來(lái)源：優(yōu)發(fā)表網(wǎng)整理 2024-09-18 11:00:12 166人看過(guò)
《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》雜志是一本專注于工程技術(shù)領(lǐng)域的期刊，發(fā)表難度因多種因素而異，以下是具體分析：
《電子測(cè)試：理論與應(yīng)用雜志》是傳播電子測(cè)試領(lǐng)域研究和應(yīng)用信息的國(guó)際論壇。這是唯一一本專門針對(duì)電子測(cè)試的雜志。《電子測(cè)試：理論與應(yīng)用雜志》上發(fā)表的論文經(jīng)過(guò)同行評(píng)審，以確保原創(chuàng)性、及時(shí)性和相關(guān)性。該雜志提供檔案材料，并通過(guò)其快速的出版周期，努力將最新成果帶給研究人員和從業(yè)人員。雖然它強(qiáng)調(diào)發(fā)表珍貴的未發(fā)表材料，但需要更廣泛曝光的優(yōu)秀會(huì)議論文，只要符合該雜志的同行評(píng)審標(biāo)準(zhǔn)，編輯也會(huì)酌情發(fā)表。 《電子測(cè)試：理論與應(yīng)用雜志》還尋求清晰的調(diào)查和評(píng)論文章，以促進(jìn)對(duì)最新技術(shù)的更好理解。
《電子測(cè)試：理論與應(yīng)用雜志》的報(bào)道包括但不限于以下主題：
VLSI 設(shè)備印刷電路板和電子系統(tǒng)的測(cè)試；
模擬和數(shù)字電子電路的測(cè)試；
微處理器、存儲(chǔ)器和信號(hào)處理設(shè)備的測(cè)試；
故障建模；
測(cè)試生成；
故障模擬；
可測(cè)試性分析；
可測(cè)試性設(shè)計(jì)；
可測(cè)試性綜合；
內(nèi)置自測(cè)試；
測(cè)試規(guī)范；
容錯(cuò)；
形式驗(yàn)證硬件；
驗(yàn)證模擬；
設(shè)計(jì)調(diào)試；
測(cè)試和診斷的人工智能方法和專家系統(tǒng)；
自動(dòng)測(cè)試設(shè)備（ATE）；
測(cè)試夾具；
電子束測(cè)試系統(tǒng)；
測(cè)試編程；
測(cè)試數(shù)據(jù)分析；
測(cè)試經(jīng)濟(jì)性；
質(zhì)量和可靠性；
CAD 工具；
晶圓級(jí)集成器件測(cè)試；
可靠系統(tǒng)測(cè)試；
制造良率和良率改進(jìn)設(shè)計(jì)；
故障模式分析和工藝改進(jìn)
發(fā)表難度
影響因子與分區(qū)：《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》雜志的影響因子為1.1，屬于JCR分區(qū)Q4區(qū)，中科院分區(qū)中大類學(xué)科工程技術(shù)為4區(qū)， 小類學(xué)科ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程：電子與電氣為4區(qū)，較高的影響因子和較好的分區(qū)表明其在學(xué)術(shù)界具有較高的影響力和認(rèn)可度，因此對(duì)稿件的質(zhì)量要求也相對(duì)較高，發(fā)表難度較大。
歷年IF值(影響因子)：
WOS分區(qū)（數(shù)據(jù)版本：2023-2024年最新版）
| 按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q4 | 278 / 352 |
21.2% |
| 按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q4 | 293 / 354 |
17.37% |
名詞解釋：
WOS即Web of Science，是全球獲取學(xué)術(shù)信息的重要數(shù)據(jù)庫(kù)，Web of Science包括自然科學(xué)、社會(huì)科學(xué)、藝術(shù)與人文領(lǐng)域的信息，來(lái)自全世界近9,000種最負(fù)盛名的高影響力研究期刊及12,000多種學(xué)術(shù)會(huì)議多學(xué)科內(nèi)容。給期刊分區(qū)時(shí)會(huì)按照某一個(gè)學(xué)科領(lǐng)域劃分，根據(jù)這一學(xué)科所有按照影響因子數(shù)值降序排名，然后平均分成4等份，期刊影響因子值高的就會(huì)在高分區(qū)中，最后的劃分結(jié)果分別是Q1，Q2，Q3，Q4，Q1代表質(zhì)量最高。
審稿周期預(yù)計(jì)：平均審稿速度 較慢,6-12周 ，審稿周期也體現(xiàn)了編輯部對(duì)稿件質(zhì)量的嚴(yán)格把關(guān)。
發(fā)表建議
提高稿件質(zhì)量：確保研究?jī)?nèi)容具有創(chuàng)新性和學(xué)術(shù)價(jià)值，語(yǔ)言表達(dá)清晰準(zhǔn)確，符合雜志工程：電子與電氣的格式和要求。
提前準(zhǔn)備：根據(jù)審稿周期，建議作者提前規(guī)劃好研究和寫(xiě)作進(jìn)度，以便有足夠的時(shí)間進(jìn)行修改和補(bǔ)充。同時(shí)，可以關(guān)注《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》雜志的約稿信息，如果能夠獲得約稿機(jī)會(huì)，發(fā)表的可能性會(huì)更大。
聲明：以上內(nèi)容來(lái)源于互聯(lián)網(wǎng)公開(kāi)資料，如有不準(zhǔn)確之處，請(qǐng)聯(lián)系我們進(jìn)行修改。
